由於電池和氫應用等新技術的持續研發以及小型化努力，微米材料的表徵是當今的關鍵問題。
一般而言 表面積與體積之比較大，這些類型的材料需要與散裝材料分開研究，但樣品製備和測量可能非常具有挑戰性。
除了我們完善的雷射閃光技術之外，PLH 設定還使我們能夠擴展無損光學儀器在厚度和熱傳輸特性方面的測量範圍。
PLH經過開發和優化，可在 10 μm 至 500 μm 的樣品厚度測量範圍和0.01 – 2000 mm²/s 的熱擴散率範圍內高精度地表徵樣品。該系統可以處理多種材料。可以測量具有半導體行為的樣品以及金屬、陶瓷或聚合物。典型應用包括用於電池和氫工業的獨立式薄膜和隔膜。
| 模型 | PLH |
|---|---|
| 溫度範圍： | 室溫高達 300°C |
| 升溫速率： | 0.01 至 20 °C/分鐘 |
| 樣品尺寸： | Ø 3、6、10、12.7 或 25.4 毫米 方形 5×5、10×10 或 20×20 毫米 |
| 樣品厚度： | 10 – 500 微米 |
| 機器人範例： | 具有 3 或 6 個樣本的機器人 |
| 雷射光源： | 連續波二極體雷射高達 5 W 波長：450 nm |
| 熱擴散率： | 0.01 至 2000 mm²/s（取決於厚度） |
| 準確性： | ±5% |
| 重複性： | ±5% |
| 腳印： | 550 x 600 x 680 毫米 21.6 X 23.6 X 26.7 英寸 |
ASTM Normen LFA：ASTM E-1461、DIN 30905 和 DIN EN 821
ASTM Normen PLH：JIS R 7240:2018 和 ISO：20007:2017
https://www.linseis.com/en/products/thermal-conductivity-instruments/plh/
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